Warning: Cannot modify header information - headers already sent by (output started at /var/www/user1175772/data/www/comp.protehnology.ru/model/shop.php:283) in /var/www/user1175772/data/www/comp.protehnology.ru/cache/template/pc.defaultHead.php on line 9
8V182512IDGGREP Специальные функциональные логические элементы Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device купить в интернет-магазине, цены, характеристики

Выберите свой город


Поиск по сайту:
Заказать звонок     Ваш город: Санкт-Петербург      Каталог
Войти в личный кабинет
Корзина пуста

8V182512IDGGREP Специальные функциональные логические элементы Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device

Производитель
Texas Instruments

Цена
запросить цену в 1 клик

Арт.: 1193322

8V182512IDGGREP Специальные функциональные логические элементы Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device

Специальные функциональные логические элементы Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device

Характеристики

Упаковка / блокTSSOP-64
Торговая маркаTexas Instruments
Вид монтажаSMD/SMT
УпаковкаReel
СерияSN74LVTH182512-EP
Размер фабричной упаковки2000
Вес изделия262.600 mg
Рабочее напряжение питания3.3 V